（二）殘影應該如何定量描述？如何解決短期殘影測量的技術難點？
殘影分為短期殘影和長期殘影，
短期殘影現象往往在幾十秒內就會消失，
然而長期殘影現象可以持續
幾個小時甚至幾天，
在一些罕見的情況下，
殘影現象還可以是永久存在的，
我們往往把這種現象稱為燒屏（或灼屏）。
短期殘影和長期殘影的測量步驟基本一致，然而相較于長期殘影，短期殘影在技術上存在很多難點，其主要原因是短期殘影消散速度快，測量軟件需要迅速做出反應。
短期殘影測量其難點主要為：
控制PG與軟件同步切換畫面；
測量儀器需擁有較高的亮度分辨率；
相機曝光時間足夠短；
軟件采集圖像時間速度足夠快；
每次的測量點位置信息判斷足夠準確。
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殘影測量具體步驟有哪些？?
殘影測量步驟通常分為三個部分：即預熱、老化和測量。
預熱：
點亮一副純色畫面，保持T0時間。預熱的目的是使待測屏幕處于亮度穩定的狀態，因為屏幕在初始點亮時，亮度存在波動，此步驟可避免由于屏幕亮度波動造成測量結果存在誤差。
老化：
點亮由黑白圖像構成的棋盤格畫面T1時間。點亮棋盤格畫面的目的是使待測屏幕產生殘影現象，屏幕在顯示黑白棋盤格畫面時最容易產生殘影現象。
測量：
切換到測量灰階圖像，保持T2時間。在測量灰階下每隔一定時間連續采集圖像，并通過計算分析每幅圖像下殘影現象發生的程度。
短期殘影測量的技術難點要如何解決？?
針對短期殘影測量項目的技術難點，弗士達DI-1600系列儀器給出了答案。
在APK與PC端利用WiFi通信，控制同步切換圖像，在0.1s內完成由棋盤格畫面切換至待測畫面，具有速度快、穩定性好等特點；
使用14bit的CCD，具有良好的亮度分辨率，例如：待測畫面亮度為10cd/m2，相機可以分辨至0.0024cd/㎡的亮度差異；
通過調大增益使曝光時間控制在100ms以內，同時采用芯片制冷工藝，提升相機感光質量；
使用1600萬像素的相機，并且可以做到每隔1s采集一副圖像；
市面上大多通過套用模板的方式提取測量點信息，這對于待測產品的擺放位置要求過高，DI-1600系列儀器可以做到準確抓取產品發光面區域，并計算得到用戶需要的點位置，這同時也減少了誤差產生的可能。
DI-1600系列產品外觀
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有哪些方法來進行殘影測量？?
目前我司主要通過兩種測量方法來描述殘影現象。
方法一：使用左黑右白的1*2棋盤格畫面，主要用于測量屏幕中心區域的殘影消散程度；
方法二：使用黑白相間的8*8棋盤格畫面，將屏幕分成64個區域，可測量這個64個區域的殘影消散程度；
這兩種方式基本可以滿足用戶的測量需求，對于屏幕不同區域的殘影消散程度加以衡量。
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