高低溫環境下光譜儀式OLED 器件壽命測試系統采用單獨測試通道，使用光譜儀在不同溫度環境（-40 ℃~100 ℃）下進行OLED  器件壽命、IVL測試系統。

針對器件壽命測量過程中穿插IV/L測量，用戶可在壽命測量前、測量中(設定間隔時間)、測量結束后，3個階段加入器件的IV/L測量。

系統組成 

1、全封閉暗室機臺(含三軸運動控制系統)

2、分光輻射亮度計

3、視覺定位系統

4、工業計算機

5、OLED器件Lifetime測量軟件

量測項目：常溫&高低溫（-40 ℃~100 ℃）范圍內的亮度、色度(x/y)、色溫、壽命、效率、IVL，高低溫沖擊測試。

系統特點 
驅動電源描述：

1、總共100個工位，每個工位配備兩種電源滿足兩款不同產品的測試。

2、8路獨立電源供應器FS-P8CH：電壓輸出0-20V，電流輸出0~18mA。

3、8路獨立電源供應器FS-P8CH-BIG：電壓輸出0-20V， 電流輸出0~200mA。

4、兩種電源在100個工位中可以不指定工位號進行混合測試。

5、兩種電源提供獨立的接口，便于下游電流板的設計。

OLED器件壽命測試軟件 

采用前后端分體式，前端負責數據查看和測量條件建立，后端控制程序運行和日志記錄。測量過程中，只要操作前端界面，可以達到完全不卡頓，軟件能快速響應。