光譜儀式OLED微顯模組和器件壽命測(cè)量系統(tǒng)

可兼容測(cè)量多片OLED微顯模組和器件的壽命衰減測(cè)試。軟件通過(guò)CCD自動(dòng)拍照定位， 通過(guò)分光輻射亮度計(jì)讀取每一工位的亮度，色度等數(shù)據(jù)。測(cè)試過(guò)程中軟件實(shí)時(shí)備份測(cè)試數(shù)據(jù)，且支持隨時(shí)導(dǎo)出測(cè)試報(bào)表。

※ 模組產(chǎn)品通過(guò)信號(hào)機(jī)進(jìn)行點(diǎn)亮測(cè)試，測(cè)試過(guò)程中可以設(shè)置對(duì)應(yīng)的老畫(huà)畫(huà)面，測(cè)試點(diǎn)位和測(cè)試畫(huà)面可以自由設(shè)定；

※ 半成品通過(guò)弗士達(dá)自主研發(fā)的多通道電源供電模塊進(jìn)行供電點(diǎn)亮，測(cè)試時(shí)讀取每一工位的電壓電流并記錄。

 系統(tǒng)組成

1、全封閉暗室(三軸運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng))

2、分光輻射亮度計(jì)

3、視覺(jué)定位系統(tǒng)

4、微顯模組常溫治具

  -器件常溫治具

  -器件高溫治具(獨(dú)立溫控，室溫~100℃，精度：±1℃)

5、紅外溫度測(cè)量系統(tǒng)(實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)產(chǎn)品溫度，精度≤±5℃)

6、模組通道信號(hào)板、微顯通訊接口

7、數(shù)字原表(量程：1mV±0.05%全程，1pA±0.05%)

8、UPS不間斷電源(斷電時(shí)數(shù)據(jù)保存； UPS工作時(shí)間>15min)

9、OLED壽命測(cè)試軟件

10、工業(yè)計(jì)算機(jī)

系統(tǒng)特點(diǎn)

分光輻射亮度計(jì)：用于光學(xué)參數(shù)測(cè)試，包括亮度，色度、色溫、發(fā)光光譜等。

對(duì)位CCD：選用500萬(wàn)分辨率工業(yè)CCD， 在測(cè)試前拍照自動(dòng)識(shí)別發(fā)光面位置及中心點(diǎn)， 儀器直接移動(dòng)到對(duì)應(yīng)位置測(cè)試。

紅外測(cè)溫儀：通過(guò)紅外測(cè)量模組及晶圓表面的溫度，每次測(cè)試完亮度后會(huì)讀取相同位置的溫度。

點(diǎn)屏測(cè)試機(jī)：
①6通道0-10V，0-300mA輸出；2通道-10~0V，0-100mA輸出

②2組12V電源輸入

③10通道電壓測(cè)量，精度1mV±0.05%；10通道電流測(cè)量，精度1pA±0.05%

④2個(gè)微顯通訊接口

⑤1臺(tái)測(cè)試機(jī)點(diǎn)2片微顯。

樣品點(diǎn)燈方式：每個(gè)樣品有14個(gè)pad， 每個(gè)pad均為直流供電。

點(diǎn)燈模式：恒流或恒壓或脈沖電流電壓測(cè)試。脈沖電流或電壓占空比調(diào)節(jié)范圍1-99%。

軟件功能

模組產(chǎn)品測(cè)試

1、可分組測(cè)試：不同組可以設(shè)置不同的測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試參數(shù)，每個(gè)組都可以獨(dú)立開(kāi)始和停止；

2、壽命測(cè)試時(shí)間區(qū)間和間隔設(shè)置：可以設(shè)置三段時(shí)間區(qū)間和測(cè)試間隔；

3、壽命測(cè)試結(jié)束條件判定：亮度衰減至初始值的百分之多少時(shí)停止測(cè)量，或按用戶設(shè)定的總時(shí)間進(jìn)行測(cè)量

4、OLED放置位置自動(dòng)識(shí)別：軟件上選擇測(cè)試的工位， 軟年控制工業(yè)視覺(jué)對(duì)位CCD自動(dòng)掃描測(cè)試工位的(OLED發(fā)光區(qū)尺寸和中心點(diǎn)位置；

5、壽命預(yù)估功能：軟件自帶壽命預(yù)估公式，根據(jù)實(shí)時(shí)測(cè)得的數(shù)據(jù)自動(dòng)計(jì)算預(yù)估壽命時(shí)間；

6、測(cè)量數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)保存和恢復(fù)：測(cè)試過(guò)程中軟件實(shí)時(shí)保存，電腦異常關(guān)機(jī)或軟件異常退出，重啟后仍可恢復(fù)加載之前的數(shù)據(jù)，繼續(xù)測(cè)量；

7、軟件可設(shè)置一組老化畫(huà)面， 在等待測(cè)試的時(shí)間段， OLED循環(huán)顯示老化畫(huà)面；

8、支持條碼掃描，及將數(shù)據(jù)上傳至服務(wù)器(需客戶提供上傳協(xié)議)。

半成品測(cè)試

1、每個(gè)器件產(chǎn)品可分別設(shè)置電源的輸出方式，亮度采樣時(shí)間間隔，結(jié)束測(cè)量條件等。每個(gè)通道均可獨(dú)立開(kāi)始和停止測(cè)量。

2、在測(cè)試開(kāi)始， 結(jié)束和測(cè)試過(guò)程中， 可以設(shè)置一個(gè)或者多個(gè)工位進(jìn)行IVL測(cè)試。IVL測(cè)試的配置和測(cè)試次數(shù)[均可以由軟件設(shè)定。

3、測(cè)量的數(shù)據(jù)包括：已測(cè)量時(shí)間、當(dāng)前亮度比值、當(dāng)前電壓電流值及預(yù)估壽命時(shí)間等。每個(gè)OLED的數(shù)據(jù)自動(dòng)測(cè)量記錄并繪制亮度衰減曲線，

即使出現(xiàn)測(cè)量異常狀況，重啟電腦或軟件時(shí)，仍可自動(dòng)載入異常發(fā)生前的數(shù)據(jù)自動(dòng)繼續(xù)測(cè)量。

軟件界面