本系統是針對器件壽命測量過程中穿插IV/L測量而開發的；用戶可在壽命測量前、測量中(設定間隔時間)、測量結束后，3個階段加入器件的IV/L測量。
高低溫環境下光譜儀掃描式OLED器件壽命測試采用單獨測試通道， 使用光譜儀進行OLED TEG光學測試， 接入獨立測試系統， 可獨立控制每個JIG的溫度、電流/電壓。
可以兼顧兩種不同尺寸TEG測試， 量測常溫&高低溫(-40℃~100℃) 范圍內的亮度、色度(x/y) 、色溫、壽命、IVL， 高低溫沖擊測試等。

系統組成

1、全封閉暗室機臺(含三軸運動控制系統)

2、分光輻射亮度計

3、視覺定位系統

4、溫度控制系統(選配)：使用水浴循環機+半導體加熱制冷，溫度范圍-40℃~100℃。

5、治具：常溫治具、高低溫治具(-40℃~100℃)

6、Lifetime測試恒流/恒壓源

7、IL測試源表、UPS

8、工業計算機

9、OLED器件IVL與Lifetime混測軟件

 系統特點

壽命測試軟件與IVL測量軟件集成為1套軟件， 可在壽命測量開始前、過程中、結束后測量IV/L。

1、可設置是否啟用CCD定位拍照， 通道自動切換；

2、供電輸出支持恒流恒壓輸出；

3、壽命測量可設置啟用溫度控制，壽命測量時長可分三段時長，時間可任意設置；

4、壽命預處理：可設定溫度預處理，電壓/電流預處理；

5、具備高低溫冷熱沖擊功能；

6、IVL測量：輸出模式分為電壓、電流密度； IV/L輸出設置、步進、測量時間間隔；

7、報表介紹：壽命報表輸出包含時間、亮色度、Ⅴ、I、AV、△I、溫度等信息；Ⅳ/L報表輸出包含時間、亮度、Ⅴ、I、電流密度等信息。